Spectroscopies Optiques

Présentation

Opération spectroscopie des solides de l’Institut Pascal, nous étudions l’interaction lumière-matière dans les semiconducteurs et les matériaux pour l’optique.

Nos offres de service

Etudes sur mesure des propriétés optique de matériaux solides.

Moyens technologiques / installations / équipements

Sources laser

  • Chaine laser femtoseconde accordable dans les intervalles [233, 333], [350, 500] et [700, 1000] nm, impulsions de 150 fs avec un taux de répétition de 76 MHz.
  • Laser YAG quadruplé 266 nm continu
  • Laser hélium-cadium (HeCd) 325 nm continu
  • Laser qswitch YAG quadruplé 266 nm, impulsions de 400 ps avec un taux de répétition de 21 kHz
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Cryostation Montana

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Cryostat à circuit fermé permettant de faire des mesures en fonction de la température de 4 à 300 K. La taille des échantillons peut varier de quelques millimètres jusqu’à 2 cm de côté. Deux nanopositionneurs permettent des déplacements de 6 mm en horizontal et 12 mm en vertical avec un pas de quelques dizaines nanomètres.


Détection

  • Une CCD camera renforcée dans l’UV détecte de 200 à 800 nm, elle est couplé à un monochromateur de 1 m de focale avec une résolution spectrale de 30 pm.
  • Un détecteur germanium refroidi à l’azote liquide fonctionne dans la gamme 1000 à 1500 nm, il est couplé à un monochromateur de 64 cm de focale.
  • Une streak camera pouvant faire de mesure temporelle de 1 ps jusqu’à la ms.

Exemples de réalisations

  • Caractérisation des optiques du LIDAR de l’OPGC par des mesures de transmission pour étalonner l’appareil et ainsi optimiser les
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    mesures de particules en suspension dans l’atmosphère.

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P. Freville et al. Sensors 15, 3041 (2015)

  • Etude de la dépendance angulaire de l’émission de lumiphores de l’ICCF pour améliorer l’extraction des diodes luminescentes blanches.

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J. Nyalosaso et al. soumis a Advanced Optical Materials

  • Mesures de réflectivité de couches antireflets sur substrat silicium de l’ICCF pour des applications photovoltaïque.

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A. Farhaoui et al. J. Phys. D: Appl. Phys. 50, 015306 (2017)